

隆安
2025-11-17 09:00:26
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 美國(guó)高溫老化箱CS典型溫度范圍? | -70℃至+300℃(部分型號(hào)可達(dá)+350℃) |
| 核心選型參數(shù)? | 溫度均勻性、控制精度、負(fù)載容量、安全聯(lián)鎖 |
| 主流標(biāo)準(zhǔn)? | ASTM D573(橡膠)、IEC 60068-2-2(電子元件) |
| 采購(gòu)關(guān)鍵流程? | 需求確認(rèn)→技術(shù)協(xié)議→FAT(工廠驗(yàn)收)→SAT(現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收) |
| 常見(jiàn)故障? | 溫度超調(diào)、傳感器漂移、加熱管斷路 |
試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理
高溫老化箱CS用于模擬材料或產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫環(huán)境下的性能衰減,揭示熱氧化、揮發(fā)物析出、結(jié)構(gòu)變形等失效模式。例如,電子元件在125℃下持續(xù)1000小時(shí),可預(yù)測(cè)其5年內(nèi)的故障率。
關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界
| 參數(shù) | 技術(shù)要求 | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ≤±2℃(空載) | 精密電子元件測(cè)試 |
| 控制精度 | ± ℃(設(shè)定值) | 半導(dǎo)體封裝試驗(yàn) |
| 負(fù)載容量 | –500kg(均布) | 大型電池包老化 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過(guò)溫保護(hù)、門鎖聯(lián)動(dòng) | 危險(xiǎn)品測(cè)試(如鋰電池) |
標(biāo)準(zhǔn)與條款
選型五步法
參數(shù)解釋表
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 |
|---|---|---|
| 分辨率 | 最小溫度顯示單位 | ℃ |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒 |
| 升溫速率 | 室溫至額定溫度時(shí)間 | ≤30min(300℃) |
采購(gòu)流程
驗(yàn)收清單
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn)符合性 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| CS-100 | RT+20℃–300℃ | 無(wú) | 100 | ±1℃ | ASTM D573 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| CS-500H | -70℃–+180℃ | 10%–98%RH | 500 | ± ℃ | IEC 60068 | 濕度控制 |
| CS-1000 | RT+10℃–350℃ | 無(wú) | 1000 | ±2℃ | MIL-STD-810G | 防爆設(shè)計(jì) |
Q1:如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)?
A:在空載狀態(tài)下,于工作空間內(nèi)布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)(中心+四角+四邊中點(diǎn)),持續(xù)運(yùn)行1小時(shí)后計(jì)算最大溫差。ASTM D573要求≤±2℃。
Q2:設(shè)備報(bào)警“溫度超調(diào)”如何處理?
A:1. 檢查PID參數(shù)是否匹配負(fù)載;2. 驗(yàn)證加熱管功率是否過(guò)剩;3. 更換老化傳感器(建議每2年更換一次)。
Q3:進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備的核心差異?
A:進(jìn)口設(shè)備(如美國(guó)CS系列)在長(zhǎng)期穩(wěn)定性(MTBF≥5000小時(shí))和安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)上更優(yōu),但國(guó)產(chǎn)設(shè)備交付周期短(4–8周 vs. 12–16周)。
Q4:高溫老化試驗(yàn)是否需要連續(xù)通風(fēng)?
A:是的。試驗(yàn)箱需配備強(qiáng)制通風(fēng)系統(tǒng)(風(fēng)速≥ ),以避免局部過(guò)熱和揮發(fā)物積聚。IEC 60068-2-2規(guī)定換氣次數(shù)≥8次/小時(shí)。
Q5:如何降低設(shè)備能耗?
A:1. 采用隔熱材料(如陶瓷纖維)減少熱損失;2. 優(yōu)化PID參數(shù)避免頻繁啟停加熱;3. 夜間非試驗(yàn)時(shí)段設(shè)置待機(jī)模式。
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