導(dǎo)讀：

儀征高溫老化箱作為環(huán)境模擬測(cè)試的核心設(shè)備，其選型需嚴(yán)格匹配試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 、IEC 60068-2-2）、負(fù)載容量及控制精度。用戶需通過技術(shù)參數(shù)比對(duì)、標(biāo)準(zhǔn)符合性驗(yàn)證及現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收流程，規(guī)避低價(jià)低質(zhì)陷阱，優(yōu)先選擇具備計(jì)量認(rèn)證（CMA）及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)的廠商。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)
3. 選型決策流程
4. 采購與驗(yàn)收Checklist
5. 儀征高溫老化箱選型對(duì)比表
6. 常見故障與維護(hù)
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)：

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

高溫老化箱用于模擬材料/電子元件在長(zhǎng)期高溫環(huán)境下的性能衰減，典型失效模式包括：

• 塑料件：熱變形、氧化降解（ASTM D638）
• 電子元件：焊點(diǎn)虛脫、電容容量衰減（IPC-TM-650）
• 金屬材料：蠕變、應(yīng)力松弛（GB/T 2039）

2. 關(guān)鍵參數(shù)表：

選型決策流程：

1. 需求確認(rèn)：明確試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（如MIL-STD-810G）、試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高≤容積的80%）、負(fù)載類型（靜態(tài)/動(dòng)態(tài)）。
2. 參數(shù)匹配：
   • 溫度均勻性：≤±2℃（空載），≤±3℃（滿載）
   • 升溫速率：3–5℃/min（常規(guī)），≥10℃/min（快速溫變型）
3. 標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證：要求廠商提供CNAS認(rèn)可的校準(zhǔn)證書（JJG 875）。
4. 詢價(jià)模板： ### 采購與驗(yàn)收Checklist： | 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 | | --- | --- | | 技術(shù)協(xié)議 | 明確溫度波動(dòng)度、均勻性、安全聯(lián)鎖條款 | | FAT（廠驗(yàn)）| 測(cè)試空載/滿載溫度均勻性、超溫保護(hù)響應(yīng)時(shí)間（≤30秒） | | SAT（到貨驗(yàn)）| 核對(duì)設(shè)備標(biāo)識(shí)、附件清單，驗(yàn)證超溫報(bào)警功能 | | 計(jì)量 | 委托第三方機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)溫度傳感器（依據(jù)JJF 1101） | | 維保 | 要求廠商提供2年質(zhì)保，備件庫存清單（如加熱管、固態(tài)繼電器） | ### 儀征高溫老化箱選型對(duì)比表： | 廠商/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | 儀征XX-HT250 | RT+10–300℃ | 無 | 250L | ±1℃ | GB/T , IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)導(dǎo)出 | | 儀征XX-HT500 | -70–300℃ | 20–98%RH | 500L | ± ℃ | MIL-STD-810G | 快速溫變、循環(huán)風(fēng)道 | | 競(jìng)品A-HT300 | RT+5–250℃ | 無 | 300L | ±2℃ | GB/T | 基礎(chǔ)PID控制 | ### 常見故障與維護(hù)： | 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 | | --- | --- | --- | | 升溫緩慢 | 加熱管老化、固態(tài)繼電器故障 | 更換加熱管（型號(hào)：XX-1000W） | | 溫度波動(dòng)大 | 風(fēng)機(jī)軸承磨損、傳感器校準(zhǔn)失效 | 更換風(fēng)機(jī)（型號(hào)：XX-200F）、重新校準(zhǔn) | | 超溫報(bào)警誤動(dòng)作 | 溫控表參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤 | 復(fù)位參數(shù)（P=50, I=30, D=10） | ### FAQ： **Q1：如何選擇適合電子元件測(cè)試的老化箱？** A：優(yōu)先確認(rèn)元件尺寸（如PCB板長(zhǎng)寬≤200mm選250L容積）、溫度范圍（如LED驅(qū)動(dòng)需150℃）、控制精度（±1℃滿足AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)）。 **Q2：低價(jià)設(shè)備可能存在哪些風(fēng)險(xiǎn)？** A：溫度均勻性差（局部超溫導(dǎo)致元件失效）、安全聯(lián)鎖缺失（如無超溫?cái)嚯姽δ埽⒉馁|(zhì)偷工減料（內(nèi)膽采用非不銹鋼易腐蝕）。 **Q3：是否需要購買帶濕度功能的老化箱？** A：若試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)包含濕熱老化（如GB/T ），需選擇高低溫濕熱交變箱；單純高溫老化無需濕度功能。 **Q4：進(jìn)口與國(guó)產(chǎn)設(shè)備如何選擇？** A：國(guó)產(chǎn)設(shè)備（如儀征XX）性價(jià)比高，交貨周期短（4–6周）；進(jìn)口設(shè)備（如德國(guó)Binder）精度更高，但價(jià)格貴30–50%。 **Q5：校準(zhǔn)周期如何確定？** A：依據(jù)JJF 1101，建議每12個(gè)月校準(zhǔn)一次；若設(shè)備使用頻繁（如每天運(yùn)行＞8小時(shí)），縮短至6個(gè)月。 ### 外部參考： - **全國(guó)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)**《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》（JJF 1101） - **中國(guó)電器科學(xué)研究院**《電子元器件高溫老化試驗(yàn)方法》（GB/T ）