

隆安
2025-11-08 08:50:13
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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經(jīng)典系列環(huán)境試驗(yàn)箱Tenney憑借高精度溫度控制(± ℃)、寬溫域(-70℃~+200℃)及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì),成為高溫老化、材料穩(wěn)定性測(cè)試的核心設(shè)備。選型時(shí)需重點(diǎn)關(guān)注負(fù)載容量、控制方式(伺服PID)及符合標(biāo)準(zhǔn)(MIL-STD-810、IEC 60068),避免因參數(shù)不匹配導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| Tenney經(jīng)典系列溫度范圍 | -70℃~+200℃(部分型號(hào)達(dá)+300℃) |
| 典型控制精度 | ± ℃(恒定工況) |
| 選型核心參數(shù) | 負(fù)載容量、試樣尺寸、控制方式(伺服PID) |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | MIL-STD-810G、IEC 60068-2-78(高溫老化) |
| 故障高發(fā)點(diǎn) | 加熱管老化、傳感器偏移、安全聯(lián)鎖誤觸發(fā) |
經(jīng)典系列Tenney試驗(yàn)箱主要用于高溫老化測(cè)試(如電子元器件、復(fù)合材料、電池?zé)崾Э啬M)及溫濕度循環(huán)測(cè)試(如包裝材料、軍工產(chǎn)品)。典型工況包括:
失效機(jī)理:高溫導(dǎo)致材料氧化、蠕變或相變;濕熱引發(fā)電化學(xué)腐蝕或絕緣性能下降。
| 參數(shù) | 說(shuō)明 | 典型值 |
|---|---|---|
| 負(fù)載容量 | 最大可放置試樣質(zhì)量 | 50kg(標(biāo)準(zhǔn)型) |
| 試樣尺寸 | 最大可容納試樣體積 | 800×600×500mm |
| 控制方式 | 伺服PID閉環(huán)控制 | 溫度波動(dòng)≤± ℃ |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 過(guò)溫/過(guò)壓保護(hù) | 三級(jí)報(bào)警(聲光+斷電) |
控制邏輯:通過(guò)鉑電阻溫度傳感器(PT100)實(shí)時(shí)反饋,伺服系統(tǒng)調(diào)節(jié)加熱/制冷功率,確保溫場(chǎng)均勻性(≤2℃)。
| 參數(shù) | 定義 | 選型建議 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作空間內(nèi)最大溫差 | ≤2℃(精密測(cè)試) |
| 升溫速率 | 室溫到最高溫的時(shí)間 | ≤5℃/min(快速溫變) |
| 分辨率 | 最小顯示溫度間隔 | ℃(高精度需求) |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Tenney T200 | -70~+200℃ | 10%~98%RH | 1200 | ± ℃ | MIL-STD-810 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| Tenney T150 | -40~+150℃ | 20%~95%RH | 800 | ±1℃ | IEC 60068 | 數(shù)據(jù)追溯 |
| 競(jìng)品A | -60~+180℃ | 15%~95%RH | 1000 | ± ℃ | GB/T 2423 | 無(wú) |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動(dòng)>±1℃ | 傳感器偏移 | 重新校準(zhǔn)PT100 |
| 加熱管頻繁跳閘 | 接觸不良 | 檢查接線(xiàn)端子 |
| 濕度顯示異常 | 濕球紗布干燥 | 更換紗布并注水 |
維護(hù)周期:
Q1:Tenney經(jīng)典系列與競(jìng)品的主要差異是什么?
A1:Tenney采用伺服PID控制,溫度波動(dòng)更小(± ℃ vs 競(jìng)品± ℃),且符合MIL-STD-810軍標(biāo),適合高可靠性測(cè)試場(chǎng)景。
Q2:如何驗(yàn)證試驗(yàn)箱的溫場(chǎng)均勻性?
A2:按GB/T 標(biāo)準(zhǔn),在空載和滿(mǎn)載狀態(tài)下分別布置9個(gè)測(cè)溫點(diǎn),記錄24小時(shí)數(shù)據(jù),計(jì)算最大溫差。
Q3:采購(gòu)時(shí)是否需要預(yù)留擴(kuò)展接口?
A3:建議預(yù)留RS485/以太網(wǎng)接口,便于后期接入LIMS(實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng))實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)化采集。
Q4:設(shè)備壽命一般多久?
A4:核心部件(如壓縮機(jī)、加熱管)壽命約8~10年,日常維護(hù)可延長(zhǎng)至12年。
Q5:高溫老化測(cè)試是否需要全程監(jiān)控?
A5:是的,MIL-STD-810要求每24小時(shí)記錄一次溫度、試樣狀態(tài),防止意外失效導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。
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