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低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱dycd_精準(zhǔn)控溫濕品質(zhì)測(cè)試優(yōu)

內(nèi)容摘要：導(dǎo)讀目錄快速答案卡片試驗(yàn)箱技術(shù)核心解析選型決策流程與參數(shù)表設(shè)備橫評(píng)對(duì)比表采購全流程Checklist故障與維護(hù)指南FAQ外部參考快速答案卡片問題答案核心參數(shù)...

老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

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導(dǎo)讀

問題	答案
核心參數(shù)	溫度范圍：-70℃~+180℃，濕度范圍：10%~98%RH，控制精度± ℃/±2%RH
選型關(guān)鍵	負(fù)載容量、試樣尺寸、控制方式（伺服/PID）、安全聯(lián)鎖（超溫/過載保護(hù)）
典型價(jià)格區(qū)間	8萬~50萬元（依容積、精度、品牌分檔）
推薦標(biāo)準(zhǔn)	GB/T （低溫）、GB/T （恒定濕熱）
常見故障	傳感器漂移、制冷劑泄漏、加濕器堵塞（占故障率65%）

DYCD系列試驗(yàn)箱用于模擬極端溫濕度環(huán)境，驗(yàn)證產(chǎn)品（如電子元件、電池、塑料）在高溫老化、低溫冷脆、濕熱腐蝕等工況下的可靠性。典型場(chǎng)景包括：

明確測(cè)試需求：溫度范圍（-40℃~+150℃？）、濕度要求（恒定/循環(huán)）。
計(jì)算負(fù)載體積：試樣總尺寸≤設(shè)備容積的70%（避免氣流短路）。
匹配控制精度：電子元器件需± ℃，材料測(cè)試可放寬至±1℃。
驗(yàn)證安全標(biāo)準(zhǔn)：確認(rèn)設(shè)備具備超溫報(bào)警、門鎖聯(lián)鎖、緊急停機(jī)功能。
預(yù)算與品牌：國產(chǎn)設(shè)備（如重慶四達(dá)、廣州五所）性價(jià)比高，進(jìn)口品牌（如ESPEC、CSZ）精度更優(yōu)。

詢價(jià)模板

設(shè)備橫評(píng)對(duì)比表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
DYCD-100	-70℃~+180℃	10%~98%RH	±1℃/±3%RH	GB/T 2423, IEC 60068	遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯
DYCD-500	-40℃~+150℃	20%~98%RH	± ℃/±2%RH	MIL-STD-810G	防爆設(shè)計(jì)、多段程序
DYCD-2000	-20℃~+120℃	30%~95%RH	± ℃/±5%RH	ASTM D4332	自動(dòng)除霜、觸摸屏操作

需求確認(rèn)：明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、試樣尺寸、預(yù)算范圍。
技術(shù)協(xié)議：約定溫度波動(dòng)度、濕度均勻性、驗(yàn)收指標(biāo)。
報(bào)價(jià)對(duì)比：要求供應(yīng)商提供設(shè)備清單、備件清單及質(zhì)保條款。
FAT/SAT驗(yàn)收：
- 工廠驗(yàn)收（FAT）：檢查設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定性、報(bào)警功能。
- 現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收（SAT）：模擬實(shí)際工況，驗(yàn)證溫濕度控制能力。
計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室）校準(zhǔn)。
維保合同：明確響應(yīng)時(shí)間（如48小時(shí)）、備件供應(yīng)周期。