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隆安
2025-11-24 09:04:17
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
浦東新區(qū)試驗(yàn)箱作為高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，其選型需結(jié)合負(fù)載容量、控制精度、標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性及長期維護(hù)成本。工程師需通過技術(shù)協(xié)議明確關(guān)鍵參數(shù)，通過FAT/SAT驗(yàn)證設(shè)備性能，避免因選型失誤導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失效。
高溫老化試驗(yàn)箱用于模擬電子元器件、材料、包裝件在高溫環(huán)境下的長期服役性能，重點(diǎn)檢測熱應(yīng)力導(dǎo)致的氧化、蠕變、絕緣失效等機(jī)理。例如，半導(dǎo)體器件在150℃下持續(xù)1000小時(shí)后，焊點(diǎn)可能因熱膨脹系數(shù)失配產(chǎn)生微裂紋。
| 參數(shù)類型 | 典型值范圍 | 適用標(biāo)準(zhǔn)條款 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+300℃ | GB/T Clause |
| 溫度均勻性 | ≤±2℃（空載） | IEC 60068-2-2:2007 Section 5 |
| 升溫速率 | 3℃/min~10℃/min | ASTM D573-14 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載保護(hù) | ISO 13849-1:2015 PL=d |
控制方式對比：
| 驗(yàn)收項(xiàng) | 合格標(biāo)準(zhǔn) | 檢測工具 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ≤±2℃（空載） | 多點(diǎn)溫度記錄儀 |
| 升溫速率 | 5℃/min±10% | 紅外測溫儀 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫3℃內(nèi)切斷加熱 | 萬用表（電壓/電流檢測） |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項(xiàng) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 上海XX儀器 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 100L~1000L | ± ℃ | GB/T 2423/IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 蘇州YY科技 | -40℃~+150℃ | 20%~95%RH | 200L~2000L | ±1℃ | ASTM D573 | 節(jié)能模式、自動(dòng)除霜 |
| 深圳ZZ設(shè)備 | -20℃~+120℃ | 30%~85%RH | 50L~500L | ± ℃ | MIL-STD-810G | 便攜式設(shè)計(jì)、快速升溫 |
Q1：試驗(yàn)箱溫度波動(dòng)超標(biāo)如何排查？
A：檢查傳感器校準(zhǔn)記錄（建議每年校準(zhǔn)1次），確認(rèn)風(fēng)道是否堵塞，驗(yàn)證PID參數(shù)是否匹配負(fù)載容量。
Q2：如何選擇試驗(yàn)箱容積？
A：根據(jù)試樣尺寸計(jì)算：單層試樣架面積≤設(shè)備內(nèi)腔面積的70%，層間距≥150mm以保證氣流均勻。
Q3：高精度試驗(yàn)箱為何需要獨(dú)立溫控？
A：獨(dú)立溫控可避免多區(qū)設(shè)備因傳感器位置差異導(dǎo)致溫度梯度，符合GB/T 對均勻性的要求。
Q4：試驗(yàn)箱加熱管頻繁燒毀的原因？
A：過載保護(hù)失效（如接觸器粘連）、散熱不良（濾網(wǎng)堵塞）、電壓波動(dòng)超過±10%。
Q5：運(yùn)輸后設(shè)備無法啟動(dòng)怎么辦？
A：檢查運(yùn)輸固定螺栓是否拆除，驗(yàn)證接地電阻（≤4Ω），確認(rèn)電源相位（三相電需核對L1/L2/L3）。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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