導(dǎo)讀：

高低溫試驗(yàn)箱拓達(dá)譜作為環(huán)境模擬測(cè)試核心設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、軍工等領(lǐng)域，其選型需嚴(yán)格匹配溫度范圍、控制精度及負(fù)載能力。用戶需通過(guò)技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)邊界，結(jié)合FAT/SAT驗(yàn)收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)，避免因設(shè)備性能不足導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)失效。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 設(shè)備技術(shù)解析與選型邏輯
3. 選型對(duì)比表
4. 采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist
5. FAQ
6. 外部參考

快速答案卡片：

• 核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+180℃）、精度± ℃、負(fù)載容量≥50kg（典型值）
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：GB/T （高溫）、GB/T （低溫）
• 避坑要點(diǎn)：拒絕無(wú)安全聯(lián)鎖的低價(jià)設(shè)備，優(yōu)先選擇通過(guò)CNAS認(rèn)證的廠商
• 維護(hù)周期：每3個(gè)月更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承，每6個(gè)月校準(zhǔn)溫度傳感器

設(shè)備技術(shù)解析與選型邏輯

一、設(shè)備應(yīng)用場(chǎng)景與失效機(jī)理

高低溫試驗(yàn)箱拓達(dá)譜主要用于模擬極端溫度環(huán)境，驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫老化（如電子元件焊點(diǎn)氧化）、低溫脆化（如塑料部件收縮）下的可靠性。典型失效案例包括：

• 電子元件：高溫下電解電容漏液，導(dǎo)致電路短路
• 金屬材料：低溫下發(fā)生冷脆斷裂（如汽車彈簧鋼）
• 密封件：溫度循環(huán)導(dǎo)致橡膠O型圈壓縮永久變形率超標(biāo)

二、關(guān)鍵參數(shù)解析表

三、選型決策流程

1. 需求確認(rèn)：明確測(cè)試對(duì)象（如PCB板需≤50kg負(fù)載）、溫度循環(huán)次數(shù)（如1000次）
2. 標(biāo)準(zhǔn)匹配：軍工產(chǎn)品需符合GJB ，汽車電子需符合ISO 16750-4
3. 廠商篩選：優(yōu)先選擇通過(guò)ISO 9001認(rèn)證且具備CNAS實(shí)驗(yàn)室的廠商（如拓達(dá)譜母公司隆安儀器）
4. 技術(shù)協(xié)議：明確驗(yàn)收條款（如連續(xù)72小時(shí)運(yùn)行無(wú)故障）

四、詢價(jià)模板

選型對(duì)比表

采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist

1. 需求階段：確認(rèn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如AEC-Q100 Grade 3要求-40℃~+125℃）
2. 技術(shù)協(xié)議：明確溫度波動(dòng)度≤± ℃（GB/T ）
3. FAT（工廠驗(yàn)收）：
   • 空載運(yùn)行24小時(shí)，記錄溫度曲線
   • 負(fù)載50kg試樣，驗(yàn)證升溫速率
4. SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：
   • 連接被測(cè)產(chǎn)品，完成3次溫度循環(huán)
   • 檢查安全聯(lián)鎖（如超溫自動(dòng)斷電）
5. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托第三方機(jī)構(gòu)（如中國(guó)計(jì)量院）出具校準(zhǔn)證書

FAQ

Q1：設(shè)備報(bào)“超溫故障”如何處理？
A：立即停機(jī)并檢查：1）加熱管是否短路；2）溫度傳感器是否偏移（用標(biāo)準(zhǔn)源校驗(yàn)）；3）通風(fēng)口是否堵塞。拓達(dá)譜設(shè)備內(nèi)置故障代碼表，可參考手冊(cè)第5章排查。

Q2：溫度波動(dòng)大是否屬于質(zhì)量問(wèn)題？
A：根據(jù)GB/T ，工作區(qū)任意兩點(diǎn)溫差應(yīng)≤2℃。若超過(guò)此值，需檢查：1）循環(huán)風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)速；2）保溫層厚度；3）傳感器安裝位置。拓達(dá)譜設(shè)備出廠前需通過(guò)48小時(shí)穩(wěn)定性測(cè)試。

Q3：如何選擇濕度控制功能？
A：若測(cè)試需模擬濕熱環(huán)境（如GB/T ），需選擇帶濕度控制的型號(hào)（如拓達(dá)譜TD-70）。僅需干燥環(huán)境測(cè)試時(shí)，可省去此功能以降低成本。

外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• SAE國(guó)際：AS6328《航空航天產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》