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隆安
2025-11-24 08:39:33
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！ 馬上咨詢
中國環(huán)境試驗箱網(wǎng)作為環(huán)境模擬測試領(lǐng)域權(quán)威平臺，為用戶提供高溫老化試驗設(shè)備選型、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)、故障維護(hù)等全流程支持。通過參數(shù)對比、采購流程規(guī)范及實操指南，可幫助工程師規(guī)避選型誤區(qū)，識別合規(guī)廠商，確保測試數(shù)據(jù)可靠性。
高溫老化試驗用于模擬電子元器件、材料在長期高溫環(huán)境下的失效機(jī)理（如氧化、熱膨脹），其核心參數(shù)直接影響測試有效性：
| 參數(shù)類型 | 技術(shù)要求 | 應(yīng)用場景 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃～+300℃（常規(guī)型） | 半導(dǎo)體封裝、汽車電子 |
| 溫度均勻性 | ≤± ℃（空載） | 精密元器件測試 |
| 升溫速率 | 3～5℃/min（線性可控） | 快速溫變試驗（MIL-STD-810G） |
| 負(fù)載容量 | 100L～2000L（按試樣尺寸定制） | 大型電池包、PCB板陣列 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫報警、門鎖斷電、排風(fēng)聯(lián)動 | 危險品測試（如鋰電池） |
失效機(jī)理關(guān)聯(lián)：
步驟1：明確測試需求
步驟2：參數(shù)優(yōu)先級排序
步驟3：詢價模板
| 階段 | 關(guān)鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確試樣數(shù)量、測試標(biāo)準(zhǔn) | 技術(shù)規(guī)格書 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 約定溫度波動范圍、安全條款 | 雙方簽字協(xié)議 |
| 工廠驗收 | 測試溫度均勻性、升溫速率 | FAT（工廠驗收測試）報告 |
| 現(xiàn)場安裝 | 檢查接地、排風(fēng)系統(tǒng) | 安裝調(diào)試記錄 |
| 計量校準(zhǔn) | 第三方機(jī)構(gòu)出具CNAS證書 | 校準(zhǔn)報告（有效期1年） |
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安設(shè)備 | RT+10℃～300℃ | 不支持 | 100L～2m3 | ± ℃ | GB/T 、IEC 60068 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 韋斯弗里達(dá) | -70℃～180℃ | 20%～98%RH | 80L～1m3 | ±1℃ | MIL-STD-810G | 觸摸屏、USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| 愛斯佩克 | RT～300℃ | 不支持 | 150L～5m3 | ± ℃ | JIS Z 2371 | 多段編程、應(yīng)急停機(jī) |
按GB/T ，在空載狀態(tài)下設(shè)定目標(biāo)溫度，穩(wěn)定后用鉑電阻探頭測量工作空間8個點（含中心），計算最大差值。若＞± ℃，需聯(lián)系廠商調(diào)整風(fēng)道或校準(zhǔn)傳感器。
常規(guī)高溫老化（如GB/T ）無需濕度，但濕熱老化（GB/T ）需同時控制溫度（40℃～70℃）和濕度（85%～95%RH）。
拒絕無GB/T 認(rèn)證設(shè)備，要求廠商提供第三方校準(zhǔn)報告（CNAS標(biāo)識），并核實加熱管功率（如3kW/m3）與保溫材料（聚氨酯發(fā)泡層≥50mm）。
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請您向我說明測試要求，我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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