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隆安
2025-11-22 14:21:03
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價更優(yōu)! 馬上咨詢
光衰試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備,選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負載容量及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標(biāo)準(zhǔn)、具備伺服控制系統(tǒng)的廠商,并通過FAT/SAT驗收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 推薦溫度范圍 | 80℃~150℃(LED行業(yè)典型值) |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-78、GB/T |
| 關(guān)鍵參數(shù)優(yōu)先級 | 溫度均勻性>負載容量>控制精度 |
| 采購避坑點 | 拒絕無FAT/SAT流程的供應(yīng)商 |
光衰試驗箱用于模擬LED、半導(dǎo)體器件在高溫環(huán)境下的光通量衰減過程,驗證材料耐熱性與封裝可靠性。典型應(yīng)用場景包括:
失效機理:高溫加速熱應(yīng)力導(dǎo)致材料膨脹系數(shù)失配,引發(fā)微裂紋擴展或界面分離。
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 行業(yè)要求 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)內(nèi)各點溫差 | ±2℃ | IEC 60068-2-78 |
| 負載容量 | 單層可放置樣品數(shù)量 | 50~200pcs | 依試樣尺寸而定 |
| 控制方式 | 伺服(PID)vs 液壓 | 伺服占90% | 伺服響應(yīng)更快 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過流保護 | 必須配置 | GB |
明確需求:
技術(shù)驗證:
詢價模板:
####
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| 隆安老化 | RT~180℃ | 20%~98%RH | 3/ 3 | ± ℃ | 遠程監(jiān)控 |
| 韋爾測試 | RT~150℃ | 不支持 | 3 | ±1℃ | 數(shù)據(jù)追溯 |
| 賽寶實驗室 | RT~200℃ | 30%~80%RH | 3 | ± ℃ | 振動疊加 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào) | 重新自整定 |
| 加熱管損壞 | 長期過載運行 | 更換并檢查負載 |
| 傳感器漂移 | 環(huán)境振動干擾 | 每年校準(zhǔn)一次 |
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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