導(dǎo)讀：

中山電源老化柜標(biāo)準(zhǔn)是高溫環(huán)境測試的核心依據(jù)，直接影響設(shè)備可靠性驗證結(jié)果。用戶需重點關(guān)注溫度均勻性、負載匹配度、安全聯(lián)鎖等關(guān)鍵參數(shù)，結(jié)合GB/T 、IEC 60068等標(biāo)準(zhǔn)選型，避免因參數(shù)虛標(biāo)或控制精度不足導(dǎo)致測試失效。

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 核心標(biāo)準(zhǔn)與適用場景
3. 關(guān)鍵參數(shù)解析與選型流程
4. 設(shè)備故障與維護指南
5. 主流廠商選型對比表
6. 采購全流程Checklist
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

核心標(biāo)準(zhǔn)與適用場景：

1. 核心標(biāo)準(zhǔn)體系

• 國家標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》
  • 適用場景：電源模塊、LED驅(qū)動、充電樁等高溫加速老化測試。
  • 關(guān)鍵條款：溫度偏差≤±2℃，升溫速率≤3℃/min。
• 國際標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-2《環(huán)境試驗 第2-2部分：試驗B：干熱》
  • 與GB/T 等效，強調(diào)多通道數(shù)據(jù)同步采集（采樣率≥1Hz）。
• 中山地方標(biāo)準(zhǔn)：Q/ZS 001-2025《電源老化柜技術(shù)規(guī)范》
  • 特色條款：要求設(shè)備配備獨立風(fēng)道系統(tǒng)，避免試樣間熱干擾。

2. 典型失效機理

• 電容失效：高溫導(dǎo)致電解液揮發(fā)，容量衰減超20%即判定失效。
• 焊點虛焊：溫度循環(huán)（如-20℃~+125℃）引發(fā)金屬疲勞，需通過X-Ray檢測。
• IGBT模塊失效：結(jié)溫超過150℃時，導(dǎo)通電阻增加30%，需實時監(jiān)測。

關(guān)鍵參數(shù)解析與選型流程：

1. 參數(shù)解釋表

2. 選型決策流程

1. 需求確認：明確試樣尺寸（如19英寸標(biāo)準(zhǔn)機架）、測試時長（如72h連續(xù)運行）。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)試樣功率選擇負載容量（預(yù)留20%余量）。
3. 標(biāo)準(zhǔn)驗證：要求廠商提供CNAS認證的校準(zhǔn)報告。
4. 實地考察：檢查加熱元件品牌（如瑞典Kanthal）、溫控器型號（如歐陸880）。

3. 詢價模板

設(shè)備故障與維護指南：

1. 常見故障與解決方案

2. 維護與校準(zhǔn)清單

• 每日：檢查冷卻水路壓力（ ~ ）。
• 每月：清潔進風(fēng)口濾網(wǎng)（壓差≤50Pa時更換）。
• 每年：委托第三方機構(gòu)校準(zhǔn)溫度傳感器（符合JJG 617-2015）。

主流廠商選型對比表：

采購全流程Checklist：

1. 需求分析：明確試樣數(shù)量、測試周期、預(yù)算范圍。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度均勻性、負載匹配度等關(guān)鍵指標(biāo)。
3. 報價對比：要求廠商提供分項報價（含運輸、安裝、培訓(xùn)）。
4. FAT/SAT：
   • FAT（工廠驗收）：檢查設(shè)備外觀、運行噪音（≤65dB）。
   • SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬滿載運行72h，記錄溫度曲線。
5. 計量認證：委托省級計量院出具校準(zhǔn)證書。
6. 維保合同：約定備件供應(yīng)周期（如加熱管≤48h）。

FAQ：

Q1：如何判斷廠商是否靠譜？
A：要求提供CNAS認證的校準(zhǔn)報告、近3年同類客戶案例（如華為、中興），并實地考察生產(chǎn)車間。

Q2：高溫老化測試是否需要恒定溫度？
A：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，需分階段設(shè)置溫度（如+85℃保持4h，+125℃保持2h），模擬實際工況。

Q3：設(shè)備報E02故障碼怎么辦？
A：E02通常為過溫保護，檢查散熱風(fēng)扇是否停轉(zhuǎn)、加熱管是否短路，并復(fù)位急停按鈕。

Q4：能否用民用烤箱替代老化柜？
A：不可替代。民用烤箱無均勻性控制、無安全聯(lián)鎖，易導(dǎo)致試樣燒毀或人員燙傷。

Q5：中山本地廠商的優(yōu)勢是什么？
A：響應(yīng)速度快（如2h內(nèi)到場維修）、成本低（較深圳廠商低15%~20%），且熟悉Q/ZS 001地方標(biāo)準(zhǔn)。

外部參考：

• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（標(biāo)準(zhǔn)解讀欄目）
• 中國計量科學(xué)研究院（校準(zhǔn)規(guī)范查詢）