導(dǎo)讀：

目錄

1. 快速答案卡片
2. 設(shè)備技術(shù)核心與選型邏輯
3. 參數(shù)解析與選型決策流程
4. 采購全流程Checklist
5. 主流廠商選型對比表
6. 常見故障與維護(hù)指南
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 核心參數(shù)：溫度范圍-70℃~+180℃，濕度范圍10%~98%RH，控制精度± ℃/±2%RH。
• 選型關(guān)鍵：負(fù)載容量≥試樣體積 倍，伺服控制優(yōu)于液壓，符合IEC 60068標(biāo)準(zhǔn)。
• 避坑指南：拒絕無CE認(rèn)證設(shè)備，優(yōu)先選擇提供FAT/SAT驗收的廠商。
• 價格區(qū)間：基礎(chǔ)型8-15萬元，高精度型25-50萬元。

設(shè)備技術(shù)核心與選型邏輯

試驗?zāi)康呐c典型工況

恒溫恒濕試驗箱用于模擬高溫、高濕、交變溫濕等極端環(huán)境，測試電子元器件、材料、包裝的耐候性。典型應(yīng)用場景包括：

• 電子行業(yè)：PCB板高溫老化（125℃/85%RH，持續(xù)1000小時）
• 汽車行業(yè)：電池包熱失控測試（-40℃~+85℃快速溫變）
• 包裝行業(yè)：ISTA運輸模擬（溫濕度循環(huán)+振動復(fù)合測試）

關(guān)鍵參數(shù)解析

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界

• IEC 60068-2-1：高溫試驗（適用于電子元件）
• ASTM D4332：包裝運輸模擬（濕度循環(huán)邊界）
• GB/T 2423：中國電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗（強(qiáng)制條款）

參數(shù)解析與選型決策流程

選型四步法

1. 需求定義：明確試樣尺寸（長×寬×高）、測試溫度/濕度曲線、持續(xù)時間。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)試樣體積選擇容積（預(yù)留30%空間），例如：
   • 試樣尺寸500×300×200mm → 選1m3試驗箱（內(nèi)腔600×500×400mm）
3. 精度驗證：要求廠商提供第三方校準(zhǔn)證書（如CNAS認(rèn)證）。
4. 附加功能：根據(jù)需求選擇程序控制、遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯功能。

詢價模板

采購全流程Checklist

主流廠商選型對比表

常見故障與維護(hù)指南

典型故障

1. 溫度超調(diào)：原因-加熱器功率過大；解決-調(diào)整PID參數(shù)。
2. 濕度波動：原因-加濕罐結(jié)垢；解決-定期清洗（每月1次）。
3. 傳感器失效：原因-冷凝水侵入；解決-選用防水型傳感器。

維護(hù)周期表

FAQ

Q1：如何判斷試驗箱的濕度均勻性？
A：在空載狀態(tài)下，將9個濕度傳感器均勻布置于工作室內(nèi)，運行48小時后，計算最大值與最小值的差值，應(yīng)≤3%RH（依據(jù)IEC 60068-2-67）。

Q2：試驗箱能否用于爆炸性氣體環(huán)境測試？
A：禁止！普通試驗箱無防爆設(shè)計，需選用ATEX認(rèn)證的防爆型設(shè)備（如德國Binder KBF系列）。

Q3：為什么測試數(shù)據(jù)與實際環(huán)境有偏差？
A：可能原因包括傳感器校準(zhǔn)失效、試樣擺放影響氣流、或控制程序未考慮熱容延遲，需通過FAT/SAT驗證排除。

外部參考

• 中國計量科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEEE《電子設(shè)備可靠性測試白皮書》