導(dǎo)讀：

南京慶生試驗箱作為高溫老化環(huán)境測試領(lǐng)域的核心設(shè)備，其選型需嚴(yán)格匹配負(fù)載容量、控制精度及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 60068、GB/T 2423）。用戶需通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)邊界，結(jié)合FAT/SAT驗收與計量校準(zhǔn)流程，規(guī)避參數(shù)虛標(biāo)、售后缺失等風(fēng)險。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗箱技術(shù)核心與失效機理
3. 關(guān)鍵參數(shù)與選型決策流程
4. 選型對比表
5. 采購全流程Checklist
6. 故障與維護實操
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 典型應(yīng)用：電子元器件、汽車電子、航空航天材料高溫老化測試（IEC 60068-2-2）。
• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍-70℃~+300℃，控制精度±1℃，負(fù)載容量≤50kg。
• 避坑指南：拒絕無計量證書設(shè)備，優(yōu)先選擇通過CNAS認(rèn)證廠商。
• 詢價模板：見正文“采購與驗收Checklist”章節(jié)。

試驗箱技術(shù)核心與失效機理

試驗?zāi)康呐c行業(yè)場景

高溫老化試驗箱用于模擬材料/元器件在長期高溫環(huán)境下的性能衰減，典型場景包括：

• 電子行業(yè)：PCB板、電容、連接器高溫應(yīng)力篩選（ASTM D5423）。
• 汽車電子：ECU、線束接插件高溫耐久測試（ISO 16750-4）。
• 航空航天：復(fù)合材料、密封件高溫?zé)岱€(wěn)定性驗證（MIL-STD-810G）。

失效機理

高溫導(dǎo)致材料發(fā)生氧化、揮發(fā)、相變等物理化學(xué)變化，例如：

• 聚合物材料：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）下降，導(dǎo)致形變或開裂。
• 金屬材料：晶界擴散加速，引發(fā)蠕變或疲勞斷裂。
• 電子元件：焊點熱應(yīng)力集中，導(dǎo)致微裂紋擴展（IPC-TM-650 ）。

關(guān)鍵參數(shù)與選型決策流程

參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 需求分析：明確試樣尺寸（如300mm×300mm×150mm）、溫度曲線（如階梯升溫）。
2. 標(biāo)準(zhǔn)匹配：確認(rèn)測試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 高溫試驗Bd方法）。
3. 廠商篩選：核查CNAS認(rèn)證、計量證書有效期（建議≤1年）。
4. 參數(shù)驗證：要求提供第三方校準(zhǔn)報告（如中國計量科學(xué)研究院）。

選型對比表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《高溫老化試驗技術(shù)要求表》（含試樣數(shù)量、溫度曲線）。
2. 技術(shù)協(xié)議：明確驗收標(biāo)準(zhǔn)（如溫度均勻性≤±2℃）、質(zhì)保期（建議≥2年）。
3. 報價對比：要求分項報價（設(shè)備費、運輸費、安裝調(diào)試費）。
4. FAT/SAT：
   • FAT（工廠驗收）：核查溫度傳感器校準(zhǔn)證書、安全聯(lián)鎖功能。
   • SAT（現(xiàn)場驗收）：模擬實際工況運行72小時，記錄溫度波動數(shù)據(jù)。
5. 計量校準(zhǔn)：委托第三方機構(gòu)（如省級計量院）進行首次校準(zhǔn)。
6. 維保合同：約定備件庫存、響應(yīng)時間（建議≤4小時）。

故障與維護實操

常見故障與解決方案

維護周期表

FAQ

Q1：南京慶生試驗箱的價格區(qū)間是多少？
A1：基礎(chǔ)型（溫度范圍-20℃~+150℃）約8萬~12萬元；高溫型（-70℃~+300℃）約15萬~25萬元，具體取決于容積和附加功能。

Q2：如何驗證設(shè)備的溫度均勻性？
A2：在空載狀態(tài)下，布置9個測溫點（按GB/T ），運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄數(shù)據(jù)，計算最大溫差。

Q3：試驗箱可以用于爆炸性氣體環(huán)境測試嗎？
A3：不可以。南京慶生試驗箱未通過ATEX認(rèn)證，需選擇防爆型設(shè)備（如Ex d IIB T4）。

Q4：設(shè)備搬遷后需要重新校準(zhǔn)嗎？
A4：需要。運輸可能導(dǎo)致傳感器移位，建議搬遷后72小時內(nèi)完成計量校準(zhǔn)。

Q5：如何選擇控制方式（伺服 vs 液壓）？
A5：伺服控制響應(yīng)快（≤2秒），適合動態(tài)溫度測試；液壓控制成本低，但精度較差（±2℃以上）。

外部參考

• 中國計量科學(xué)研究院：環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范（JJF 1101-2019）
• IEC標(biāo)準(zhǔn)庫：IEC 60068-2-2高溫試驗方法