導(dǎo)讀：

目錄：

1. 快速答案卡片
2. 核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)
3. 選型決策流程與實(shí)操表
4. 采購全流程Checklist
5. 選型對比表
6. 常見故障與維護(hù)
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片：

• 選型核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+150℃）、容積（1m3~20m3）、負(fù)載容量（50kg~2000kg）、控制精度（± ℃）。
• 關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)：IEC 60068-2-1（低溫）、IEC 60068-2-2（高溫）、GB/T 。
• 價(jià)格區(qū)間：10萬元~200萬元（依容積與精度浮動(dòng)）。
• 靠譜廠商特征：提供FAT/SAT現(xiàn)場驗(yàn)收、計(jì)量報(bào)告、3年質(zhì)保。

核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)：

1. 試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況：

• 高溫老化：模擬電子元器件、電池、材料在長期高溫下的性能衰減（如半導(dǎo)體封裝失效、鋰離子電池?zé)崾Э兀?/li>
• 低溫測試：驗(yàn)證材料脆化、潤滑劑凝固等低溫失效模式（如航空航天密封件低溫漏氣）。
• 溫度循環(huán)：檢測熱脹冷縮導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)疲勞（如汽車電子連接器接觸不良）。

2. 關(guān)鍵參數(shù)解析表：

3. 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)與適用邊界：

• IEC 60068-2-1：低溫試驗(yàn)方法，適用于電子元器件、電池的低溫存儲(chǔ)測試。
• IEC 60068-2-2：高溫試驗(yàn)方法，覆蓋材料熱老化、電子元件高溫工作測試。
• GB/T ：中國國家標(biāo)準(zhǔn)，與IEC 60068等效，適用于出口產(chǎn)品認(rèn)證。
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)，對溫度沖擊、循環(huán)要求更嚴(yán)苛。

選型決策流程與實(shí)操表：

1. 選型步驟：

1. 明確需求：確定試樣尺寸、負(fù)載重量、溫度范圍、循環(huán)次數(shù)。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)表1篩選容積、溫度范圍、控制精度。
3. 標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)證：確認(rèn)設(shè)備符合目標(biāo)市場認(rèn)證要求（如CE、UL）。
4. 廠商評估：要求提供同類客戶案例、FAT/SAT報(bào)告。
5. 成本優(yōu)化：對比國產(chǎn)與進(jìn)口設(shè)備全生命周期成本（含維護(hù)、備件）。

2. 詢價(jià)模板：

采購全流程Checklist：

選型對比表：

常見故障與維護(hù)：

• 故障1：溫度波動(dòng)超標(biāo)
  原因：加熱/制冷元件老化、傳感器偏移。
  解決：更換元件、校準(zhǔn)傳感器（需CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)操作）。
• 故障2：低溫達(dá)不到設(shè)定值
  原因：制冷劑泄漏、壓縮機(jī)故障。
  解決：查漏補(bǔ)焊、更換壓縮機(jī)（需專業(yè)資質(zhì)）。
• 維護(hù)周期：每季度清潔冷凝器、每年更換干燥過濾器。

FAQ：

Q1：如何選擇設(shè)備容積？
A：試樣總體積需≤設(shè)備容積的70%，預(yù)留通風(fēng)空間。例如測試10個(gè)1m3電池包，需選≥15m3試驗(yàn)箱。

Q2：進(jìn)口設(shè)備是否更可靠？
A：進(jìn)口設(shè)備控制精度更高（如± ℃），但國產(chǎn)設(shè)備性價(jià)比優(yōu)勢明顯。建議根據(jù)預(yù)算和認(rèn)證需求選擇。

Q3：設(shè)備校準(zhǔn)周期是多久？
A：每年至少1次，依據(jù)ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)，由CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)執(zhí)行。

Q4：溫度均勻性如何驗(yàn)證？
A：在空載狀態(tài)下，布置9個(gè)測溫點(diǎn)（中心+四角+四邊中點(diǎn)），運(yùn)行2小時(shí)后計(jì)算最大溫差，應(yīng)≤±2℃。

Q5：安全聯(lián)鎖包含哪些功能？
A：超溫報(bào)警、斷電保護(hù)、門開停機(jī)、急停按鈕、制冷劑低壓保護(hù)。

外部參考：

• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 8）
• 中國計(jì)量科學(xué)研究院（NIM）環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范