1. 導(dǎo)讀

恒溫恒濕試驗(yàn)箱不供水是環(huán)境模擬測(cè)試中的常見(jiàn)故障，主要涉及水路堵塞、電磁閥失效、水位傳感器故障或控制邏輯異常。用戶(hù)需結(jié)合設(shè)備參數(shù)（如濕度控制精度、采樣率）、應(yīng)用場(chǎng)景（如電子元器件老化測(cè)試）及標(biāo)準(zhǔn)（GB/T ）進(jìn)行系統(tǒng)性排查，避免因供水問(wèn)題導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)失真或設(shè)備停機(jī)。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 供水系統(tǒng)原理與關(guān)鍵參數(shù)
• 不供水故障的7類(lèi)原因與排查流程
• 選型對(duì)比表：主流廠商設(shè)備參數(shù)
• 采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist
• FAQ：工程師高頻問(wèn)題解答
• 外部參考

3. 快速答案卡片

4. 正文結(jié)構(gòu)

供水系統(tǒng)原理與關(guān)鍵參數(shù)

恒溫恒濕試驗(yàn)箱的供水系統(tǒng)通過(guò)電磁閥控制水流，經(jīng)加濕器霧化后調(diào)節(jié)箱內(nèi)濕度。關(guān)鍵參數(shù)包括：

• 負(fù)載能力：?jiǎn)未渭訚窳啃杵ヅ湎潴w容積（如50L/h對(duì)應(yīng)1m3箱體）。
• 控制方式：伺服控制（PID調(diào)節(jié)）比液壓控制更精準(zhǔn)。
• 安全聯(lián)鎖：水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)停機(jī)，防止干燒。

典型工況：

• 電子元器件老化測(cè)試（溫度85℃/濕度85%RH，持續(xù)1000小時(shí)）。
• 包裝材料濕熱試驗(yàn)（GB/T 標(biāo)準(zhǔn)）。

不供水故障的7類(lèi)原因與排查流程

步驟1：檢查水箱水位

• 參數(shù)：水箱容積≥5L，水位傳感器分辨率 。
• 操作：觀察水位指示器，低于最低刻度時(shí)需補(bǔ)水。

步驟2：排查電磁閥

• 失效機(jī)理：線圈燒毀（電阻∞）或閥芯卡滯（通電無(wú)動(dòng)作）。
• 檢測(cè)：用萬(wàn)用表測(cè)線圈電阻（正常值20-50Ω），手動(dòng)通斷測(cè)試閥體。

步驟3：清理水路管道

• 堵塞原因：水垢沉積（硬度＞150mg/L時(shí)易發(fā)）。
• 解決方案：用5%檸檬酸溶液循環(huán)清洗，更換PP棉過(guò)濾器。

步驟4：校驗(yàn)水位傳感器

• 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 要求傳感器誤差≤±5%。
• 測(cè)試：模擬高低水位，觀察控制板輸入信號(hào)是否變化。

步驟5：檢查控制板輸出

• 關(guān)鍵參數(shù)：采樣率≥1次/秒，輸出電壓24V±5%。
• 工具：示波器檢測(cè)PWM信號(hào)波形。

故障樹(shù)分析表

選型對(duì)比表

采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist

需求階段

• 明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（如MIL-STD-810G）。
• 確定負(fù)載類(lèi)型（如PCB板尺寸≤500mm×300mm）。

技術(shù)協(xié)議

• 約定濕度控制分辨率（ %RH）。
• 要求安全聯(lián)鎖功能（如門(mén)開(kāi)停機(jī)）。

FAT/SAT驗(yàn)收

• 測(cè)試項(xiàng)目：濕度波動(dòng)度、恢復(fù)時(shí)間。
• 合格標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 。

計(jì)量校準(zhǔn)

• 周期：每年一次，由CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)執(zhí)行。

5. FAQ

Q1：供水系統(tǒng)頻繁報(bào)警如何解決？
A：檢查水位傳感器是否被水垢覆蓋，清潔后重新校準(zhǔn)；若傳感器正常，則排查控制板信號(hào)輸入。

Q2：如何選擇適合的加濕方式？
A：蒸汽加濕（響應(yīng)快）適用于小容積設(shè)備，電極加濕（維護(hù)簡(jiǎn)單）適用于大容積場(chǎng)景。

Q3：設(shè)備價(jià)格與哪些因素相關(guān)？
A：溫度范圍（-70℃比-40℃貴30%）、控制精度（± %RH比±2%RH貴20%）、附加功能（如遠(yuǎn)程監(jiān)控）。

Q4：水路堵塞后如何預(yù)防？
A：安裝前置過(guò)濾器（精度5μm），每3個(gè)月更換一次；使用去離子水（電導(dǎo)率＜5μS/cm）。

Q5：電磁閥壽命一般多久？
A：正常工況下5-8年，頻繁通斷（如每小時(shí)＞10次）會(huì)縮短至3年。

6. 外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》欄目
• ASTM International《Standard Practices for Cycle Testing》