1. 導讀

深圳電器元件老化柜生產廠家需滿足高溫環(huán)境模擬測試需求，用戶選型時應重點關注溫度均勻性、負載容量、安全聯(lián)鎖設計及符合GB/T 、IEC 60068等標準。通過技術參數(shù)對比、實地考察及FAT/SAT驗收流程，可規(guī)避設備精度不足、維護成本高等風險。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 老化柜技術核心與選型
  • 試驗目的與失效機理
  • 關鍵參數(shù)解析
  • 選型決策流程
• 深圳廠商橫評表
• 采購全流程Checklist
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

4. 正文結構

老化柜技術核心與選型

試驗目的與失效機理

電器元件在高溫環(huán)境下可能因熱膨脹、絕緣材料降解、焊點虛脫等機理失效。例如，電容在125℃下持續(xù)工作1000小時后，容量衰減可能超過20%（引用：中國電子技術標準化研究院《元器件高溫壽命試驗報告》2025）。老化柜通過模擬加速壽命試驗，提前暴露設計缺陷。

關鍵參數(shù)解析

參數(shù)解釋表

選型決策流程

1. 需求確認：明確試樣尺寸（如PCB板最大200mm×300mm）、測試周期（連續(xù)72小時）。
2. 參數(shù)匹配：依據GB/T 選擇溫度范圍（如-40℃~150℃）。
3. 廠商評估：要求提供第三方校準證書（如CNAS認證實驗室出具）。
4. 實地驗證：觀察設備運行日志，確認歷史故障率＜ %。

詢價模板

5.

深圳廠商橫評表

6.

采購全流程Checklist

1. 需求階段：明確試樣類型、測試標準、預算范圍。
2. 技術協(xié)議：約定溫度波動、報警閾值、數(shù)據記錄頻率（如每分鐘1次）。
3. 報價對比：剔除含隱形費用（如運輸保險、安裝調試費）的方案。
4. FAT/SAT：
   • FAT：驗證溫度曲線、負載穩(wěn)定性。
   • SAT：現(xiàn)場復測，確認與實驗室數(shù)據一致。
5. 驗收：檢查安全聯(lián)鎖、接地電阻（＜ Ω）。
6. 計量：委托省級計量院校準，出具CNAS報告。
7. 維保：要求廠商提供備件清單及48小時響應承諾。

7.

FAQ

Q1：如何判斷設備溫度均勻性達標？
A：在空載狀態(tài)下，將9個溫度傳感器均勻布置于腔體（上3、中3、下3），運行至設定溫度后穩(wěn)定1小時，記錄各點數(shù)據，最大差值應≤標稱均勻性值（如±2℃）。

Q2：老化柜能否兼容不同尺寸試樣？
A：可調式層架設計（如間距50mm可調）的機型支持，但需確認最大承重（通?！?0kg/層）。

Q3：設備故障率高的原因有哪些？
A：常見于加熱管接觸不良（占比35%）、傳感器漂移（28%）、風機積塵（20%）。

Q4：進口與國產設備如何選擇？
A：國產設備在交付周期（4~6周 vs 進口12周）和售后成本（低40%）上占優(yōu)，但進口設備在超低溫（-70℃以下）控制精度更高。

Q5：維護周期及成本？
A：每季度清理風機濾網（免費），每年更換加熱管（約800元/根），每2年校準傳感器（約2000元/次）。

8.

外部參考

• 中國電子技術標準化研究院《元器件高溫試驗方法》專欄
• 國際電工委員會（IEC）TC 112“環(huán)境試驗”工作組報告

9.

10.

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