

隆安
2025-11-13 08:47:34
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電子廠老化房是保障電子產(chǎn)品可靠性的核心設備,其選型需聚焦溫度均勻性、負載容量及安全聯(lián)鎖等關鍵參數(shù)。2025年行業(yè)標準(GB/T )明確要求高溫老化測試需覆蓋-70℃至+200℃范圍,精度±1℃,用戶應優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-2標準的設備,避免因參數(shù)虛標或維護缺失導致測試失效。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | -70℃至+200℃(GB/T ) |
| 核心選型參數(shù) | 溫度均勻性、負載容量、安全聯(lián)鎖、控制精度 |
| 價格區(qū)間 | 10萬元(小型)至200萬元(大型定制化) |
| 關鍵標準 | IEC 60068-2-2、GB/T 、MIL-STD-810G |
| 維護周期 | 每3個月校準一次,每年全面檢修 |
電子廠老化房主要用于模擬高溫環(huán)境,加速電子產(chǎn)品(如PCB、電源模塊、LED)的壽命測試,識別早期失效。典型工況包括:
| 參數(shù) | 定義 | 推薦值 | 失效風險 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 房內各點溫差 | ≤±2℃(GB/T ) | 局部過熱導致試樣損壞 |
| 升溫速率 | 室溫至設定溫度的時間 | ≤30min(150℃) | 測試周期延長 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載自動斷電 | 必須配置(IEC 60068-2-2) | 火災或設備損毀 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | ≥1次/秒 | 失效時間點缺失 |
| 廠商/型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-2000 | -70℃至+180℃ | 10%RH至95%RH | 2m3/5m3/10m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-2 | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 泰克TEK-HT500 | -40℃至+150℃ | 20%RH至80%RH | 1m3/3m3 | ±1℃ | GB/T | 應急冷卻系統(tǒng) |
| 日立HIT-3000 | -60℃至+200℃ | 15%RH至90%RH | 8m3/15m3 | ± ℃ | MIL-STD-810G | 防爆設計(鋰電池測試) |
| 故障現(xiàn)象 | 原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動>±2℃ | 加熱管老化/傳感器偏移 | 更換加熱管,重新校準傳感器 |
| 升溫速率下降 | 循環(huán)風機故障/風道堵塞 | 清理風道,更換軸承 |
| 安全聯(lián)鎖觸發(fā) | 過載或超溫 | 檢查負載,復位聯(lián)鎖系統(tǒng) |
Q1:如何判斷老化房的溫度均勻性是否達標?
A:使用多點溫度記錄儀(至少9點),在空載和滿載狀態(tài)下分別測試,最大溫差應≤±2℃(GB/T )。
Q2:老化房的負載容量如何計算?
A:總負載功率=試樣數(shù)量×單件功率,需預留20%余量(如100個50W試樣,選≥6kW設備)。
Q3:進口與國產(chǎn)老化房如何選擇?
A:進口設備(如日立、ESPEC)精度高但維護成本高;國產(chǎn)設備(隆安、泰克)性價比優(yōu),需重點核查計量證書。
Q4:老化房是否需要防爆設計?
A:測試鋰電池或含易燃物的產(chǎn)品時,必須選擇防爆型(符合ATEX或IECEx標準)。
Q5:采購時如何避免參數(shù)虛標?
A:要求廠商提供第三方檢測報告(如SGS、TüV),并現(xiàn)場見證FAT測試。
因老化試驗設備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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