1. 導(dǎo)讀

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 試驗箱核心參數(shù)解析
• 選型決策流程與實操工具
• 主流廠商設(shè)備對比表
• 采購與驗收全流程Checklist
• 常見故障與維護指南
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 選型核心參數(shù)：溫度范圍（-80℃~+200℃）、控制精度±1℃、負載容量≥50kg。
• 典型應(yīng)用場景：汽車電子、航空航天、消費電子（GB/T ）。
• 避坑要點：拒絕無安全聯(lián)鎖設(shè)備，優(yōu)先選擇通過CNAS認證的廠商。

4. 正文結(jié)構(gòu)

試驗箱核心參數(shù)解析

電子產(chǎn)品高低溫沖擊試驗箱通過快速溫度變化（如-40℃→+85℃）模擬極端環(huán)境，檢測材料熱脹冷縮、焊點疲勞等失效模式。關(guān)鍵參數(shù)如下：

標準依據(jù)：GB/T 《環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》規(guī)定，試驗箱需滿足溫度波動度≤±2℃，溫度均勻度≤2℃。

選型決策流程與實操工具

步驟1：明確測試需求

• 測試對象：PCB板、芯片、電池等（尺寸≤800mm×600mm×500mm）。
• 溫度曲線：需模擬多少次循環(huán)？每次駐留時間多長？

步驟2：參數(shù)匹配表

步驟3：詢價模板

主流廠商設(shè)備對比表

采購與驗收全流程Checklist

1. 需求確認：明確測試對象、溫度曲線、預(yù)算。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度范圍、精度、交付周期。
3. 報價對比：至少3家廠商報價，重點關(guān)注售后服務(wù)。
4. FAT/SAT驗收：
   • FAT：檢查設(shè)備參數(shù)是否達標，運行24小時無故障。
   • SAT：現(xiàn)場安裝后復(fù)測溫度均勻性、波動度。
5. 計量校準：每年委托第三方機構(gòu)（如CNAS實驗室）校準。

常見故障與維護指南

• 故障1：溫度失控
  • 原因：傳感器損壞、加熱管老化。
  • 解決：更換PT100傳感器，檢查固態(tài)繼電器。
• 故障2：制冷效率下降
  • 原因：冷媒泄漏、冷凝器積灰。
  • 解決：補充R404A冷媒，清洗冷凝器翅片。

維護周期表：

5. FAQ

Q1：如何判斷試驗箱是否符合標準？
A：要求廠商提供CNAS認證報告，并現(xiàn)場復(fù)測溫度均勻性（GB/T 要求≤2℃）。

Q2：小批量采購如何降低成本？
A：選擇標準機型（如300L容積），避免定制化需求；優(yōu)先與本地廠商合作以減少運輸成本。

Q3：試驗箱能否測試帶電樣品？
A：可以，但需選擇具備絕緣設(shè)計的設(shè)備，并確保樣品接地良好（參考IEC 60068-2-14）。

6. 外部參考

• 中國電器科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗設(shè)備校準規(guī)范》
• IEEE：電子產(chǎn)品可靠性測試標準專欄