導(dǎo)讀

老化柜負(fù)載儀是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，其選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負(fù)載控制精度及安全聯(lián)鎖設(shè)計。工程師需結(jié)合IEC 60068-2-2等標(biāo)準(zhǔn)，通過參數(shù)對比表與采購流程Checklist規(guī)避技術(shù)風(fēng)險，優(yōu)先選擇通過CNAS認(rèn)證的廠商。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 老化柜負(fù)載儀技術(shù)解析
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 采購全流程Checklist
5. 選型對比表
6. 常見故障與維護
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

• 核心參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+300℃）、負(fù)載精度± %FS、控制方式（伺服PID）
• 選型優(yōu)先級：標(biāo)準(zhǔn)符合性＞控制精度＞附加功能
• 典型故障：溫度超調(diào)（PID參數(shù)失調(diào)）、負(fù)載波動（傳感器校準(zhǔn)失效）
• 維護周期：每3個月校準(zhǔn)傳感器，每年更換密封條

老化柜負(fù)載儀技術(shù)解析

試驗?zāi)康呐c行業(yè)場景

老化柜負(fù)載儀用于模擬高溫環(huán)境（如汽車電子、航空航天、5G通信）下產(chǎn)品的長期可靠性，通過施加額定負(fù)載檢測材料熱老化、接觸氧化、焊點虛焊等失效模式。典型應(yīng)用包括：

• 汽車電子：IGBT模塊高溫功率循環(huán)測試（依據(jù)AEC-Q101）
• 半導(dǎo)體封裝：功率器件熱阻測試（JESD51標(biāo)準(zhǔn)）
• 電池系統(tǒng)：BMS高溫充放電老化（GB/T ）

關(guān)鍵參數(shù)與技術(shù)邊界

標(biāo)準(zhǔn)適用邊界：IEC 60068-2-2（通用高溫試驗）不適用于爆炸性氣體環(huán)境，需額外符合ATEX 95標(biāo)準(zhǔn)。

選型決策流程與參數(shù)表

選型決策流程

1. 需求定義：明確測試對象尺寸（如PCB板150×200mm）、負(fù)載類型（電阻性/電感性）
2. 標(biāo)準(zhǔn)匹配：優(yōu)先選擇符合MIL-STD-810G或GB/T 的設(shè)備
3. 預(yù)算分配：基礎(chǔ)型（10-20萬元）vs 高端型（50萬元+，帶紅外熱成像）
4. 廠商評估：核查CNAS實驗室認(rèn)可證書（編號需可追溯）

詢價模板

采購全流程Checklist

選型對比表

常見故障與維護

• 故障1：溫度超調(diào)
  • 原因：PID參數(shù)未根據(jù)負(fù)載特性調(diào)整
  • 解決：采用Ziegler-Nichols法重新整定參數(shù)
• 故障2：負(fù)載波動
  • 原因：霍爾傳感器零點漂移
  • 解決：按ISO 9001流程執(zhí)行年度校準(zhǔn)
• 維護清單：
  • 每月：清潔進氣濾網(wǎng)（壓縮空氣吹掃）
  • 每季度：檢查加熱管阻值（偏差＞10%需更換）

FAQ

Q1：如何選擇溫度均勻性指標(biāo)？ A1：根據(jù)測試嚴(yán)苛度，消費電子可選±2℃，汽車電子需≤± ℃（參考AEC-Q100）。均勻性差會導(dǎo)致同一批次產(chǎn)品壽命差異超30%。

Q2：負(fù)載儀是否需要獨立接地？ A2：必須獨立接地，接地電阻≤ Ω。共用接地會導(dǎo)致工頻干擾（50Hz）混入測試信號，引發(fā)誤判。

Q3：高溫老化是否需要氮氣保護？ A3：當(dāng)溫度＞150℃且測試含有機材料時需充氮氣（氧濃度≤5%），否則會加速氧化導(dǎo)致接觸電阻上升200%。

外部參考

• 全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會：GB/T 2423系列標(biāo)準(zhǔn)解讀
• 美國電子元件協(xié)會（ECIA）：AEC-Q100應(yīng)力測試指南