導(dǎo)讀

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗(yàn)箱類別與技術(shù)參數(shù)
3. 選型決策流程與實(shí)操表
4. 設(shè)備對(duì)比表
5. 采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist
6. 常見(jiàn)問(wèn)題解答（FAQ）
7. 外部參考

快速答案卡片

• 核心類別：按溫度范圍分常溫光老化箱、高溫光老化箱；按光源分高壓汞燈型、氙燈型。
• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍（-20℃~+200℃）、光照強(qiáng)度（500~2000W/m2）、濕度控制（10%~98%RH）。
• 推薦標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62507（電子元件光老化）、ASTM G154（塑料紫外老化）。
• 價(jià)格區(qū)間：基礎(chǔ)型5萬(wàn)~15萬(wàn)元，高精度型20萬(wàn)~50萬(wàn)元。
• 維護(hù)重點(diǎn)：每3個(gè)月更換汞燈，每年校準(zhǔn)溫濕度傳感器。

試驗(yàn)箱類別與技術(shù)參數(shù)

1. 類別劃分

• 按溫度范圍：
  • 常溫光老化箱：0℃~+60℃，適用于室內(nèi)材料短期測(cè)試。
  • 高溫光老化箱：-20℃~+200℃，模擬極端環(huán)境（如汽車外飾件）。
• 按光源類型：
  • 高壓汞燈型：光譜集中于365nm紫外波段，適合加速光老化。
  • 氙燈型：全光譜模擬太陽(yáng)光，適用于戶外材料測(cè)試。
• 按控制方式：
  • PID閉環(huán)控制：精度±1℃，適用于高精度實(shí)驗(yàn)。
  • 開環(huán)控制：成本低，但溫度波動(dòng)±5℃，僅用于基礎(chǔ)測(cè)試。

2. 典型工況參數(shù)

選型決策流程與實(shí)操表

1. 選型參數(shù)解析表

2. 詢價(jià)模板

設(shè)備對(duì)比表

采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist

1. 需求確認(rèn)：明確試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)（如IEC 62507）、試樣尺寸、測(cè)試周期。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定溫度均勻性（≤±2℃）、光照均勻性（≥80%）。
3. FAT/SAT：
   • 工廠驗(yàn)收（FAT）：空載運(yùn)行24小時(shí)，記錄溫度波動(dòng)。
   • 現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收（SAT）：負(fù)載試樣運(yùn)行72小時(shí)，驗(yàn)證數(shù)據(jù)重復(fù)性。
4. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)溫濕度傳感器及光照計(jì)。
5. 維保合同：明確汞燈更換周期（通常800~1200小時(shí)）、備件庫(kù)存。

常見(jiàn)問(wèn)題解答（FAQ）

Q1：高壓汞燈與氙燈試驗(yàn)箱如何選擇？
A：高壓汞燈光譜集中于紫外波段，適合加速光老化；氙燈模擬全光譜太陽(yáng)光，適用于戶外材料。若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)明確要求紫外波段（如IEC 62507），優(yōu)先選汞燈型。

Q2：設(shè)備溫度波動(dòng)大怎么辦？
A：檢查加熱管老化、風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)速或PID參數(shù)。若加熱管阻值偏差＞10%，需更換；PID參數(shù)可通過(guò)自整定功能優(yōu)化。

Q3：汞燈壽命到期有何表現(xiàn)？
A：光照強(qiáng)度下降＞20%，或啟動(dòng)時(shí)間＞5分鐘。需立即更換，否則影響測(cè)試一致性。

Q4：如何驗(yàn)證設(shè)備均勻性？
A：在箱體內(nèi)均布9個(gè)測(cè)溫點(diǎn)，運(yùn)行至穩(wěn)態(tài)后記錄數(shù)據(jù)，計(jì)算最大溫差。IEC標(biāo)準(zhǔn)要求溫度均勻性≤±2℃。

Q5：采購(gòu)時(shí)如何避免參數(shù)虛標(biāo)？
A：要求廠商提供第三方檢測(cè)報(bào)告（如CNAS證書），或現(xiàn)場(chǎng)見(jiàn)證FAT測(cè)試，核實(shí)溫度、光照實(shí)測(cè)值與標(biāo)稱值偏差。

外部參考

• 中國(guó)電器科學(xué)研究院：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范欄目
• ASTM國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織：G154-23《塑料紫外光暴露標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐》
• IEC國(guó)際電工委員會(huì)：IEC 62507《電子元件光老化測(cè)試方法》