導(dǎo)讀

南京低濕型恒溫恒濕試驗箱是高溫老化、電子元器件可靠性測試的關(guān)鍵設(shè)備，選型需聚焦溫度/濕度控制精度、負(fù)載能力及安全標(biāo)準(zhǔn)。工程師需結(jié)合試驗需求、預(yù)算及廠商技術(shù)實(shí)力，通過參數(shù)比對、FAT/SAT驗收及定期校準(zhǔn)規(guī)避風(fēng)險。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)
3. 選型決策流程
4. 采購全流程Checklist
5. 選型對比表
6. 常見故障與維護(hù)
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

• 典型應(yīng)用：電子元器件高溫老化、材料吸濕性測試、包裝運(yùn)輸模擬
• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍-70℃~+180℃，濕度范圍10%~98%RH，控制精度± ℃/±2%RH
• 選型核心：負(fù)載容量、控制方式（伺服PID）、安全聯(lián)鎖（超溫/過載保護(hù)）
• 價格區(qū)間：8萬~50萬元（依容積與精度分級）
• 推薦標(biāo)準(zhǔn)：GB/T （濕熱試驗）、IEC 60068-2-67（低濕環(huán)境）

核心參數(shù)與技術(shù)要點(diǎn)

試驗?zāi)康呐c典型工況

• 高溫老化：模擬電子元器件（如IC、電容）在85℃~125℃下的長期工作穩(wěn)定性，檢測焊點(diǎn)虛焊、介質(zhì)擊穿等失效。
• 低濕測試：針對光學(xué)鏡頭、精密傳感器，驗證其在10%RH以下環(huán)境的靜電積累、材料收縮率。
• 交變濕熱：通過快速溫濕度循環(huán)（如2h升溫至55℃/85%RH，2h降溫至25℃/50%RH），檢測金屬腐蝕、塑料吸濕變形。

關(guān)鍵參數(shù)表

適用標(biāo)準(zhǔn)與邊界

• GB/T ：恒定濕熱試驗，適用于倉儲環(huán)境模擬。
• IEC 60068-2-67：低濕環(huán)境試驗，邊界條件為10%RH±3%，溫度25℃±2℃。
• MIL-STD-810G：軍用設(shè)備環(huán)境適應(yīng)性，增加振動與鹽霧復(fù)合試驗。

選型決策流程

1. 需求分析：明確試驗類型（恒定/交變）、試樣尺寸（如1m3箱體適配PCB板）、負(fù)載數(shù)量（如20個傳感器）。
2. 參數(shù)匹配：
   • 高精度需求選伺服PID控制，成本敏感型選液壓式。
   • 低濕工況需確認(rèn)除濕速率（如從90%RH降至10%RH≤60min）。
3. 廠商評估：
   • 核查資質(zhì)（CNAS實(shí)驗室認(rèn)可）、案例（如為華為提供過老化測試設(shè)備）。
   • 要求提供FAT（工廠驗收測試）報告，驗證溫濕度均勻性（≤±2℃/±5%RH）。
4. 詢價模板：
   ### 采購全流程Checklist | 階段 | 任務(wù) | | --- | --- | | 需求確認(rèn) | 明確試驗標(biāo)準(zhǔn)、試樣數(shù)量、預(yù)算范圍 | | 技術(shù)協(xié)議 | 約定溫度波動度、濕度均勻性、安全聯(lián)鎖條款 | | 報價對比 | 橫向比較3家以上廠商，關(guān)注隱性成本（如校準(zhǔn)費(fèi)用） | | FAT | 驗收溫濕度控制穩(wěn)定性、報警功能、數(shù)據(jù)記錄完整性 | | SAT | 現(xiàn)場安裝后復(fù)測，確認(rèn)與實(shí)驗室環(huán)境兼容性 | | 計量校準(zhǔn) | 每年委托第三方（如中國計量科學(xué)研究院）進(jìn)行溯源校準(zhǔn) | | 維保 | 簽訂2年全保合同，明確備件響應(yīng)時間（如≤48小時） | ### 選型對比表 | 廠商/型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | | --- | --- | --- | --- | --- | --- | --- | | 南京A廠-HT-2000 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | 2m3 | ± ℃/±2%RH | GB/T 2423 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 | | 蘇州B廠-LX-1500 | -40℃~+150℃ | 15%~95%RH | 3 | ±1℃/±3%RH | IEC 60068 | 節(jié)能模式、自動除霜 | | 上海C廠-EH-1000 | -20℃~+120℃ | 20%~90%RH | 1m3 | ± ℃/±4%RH | MIL-STD-810G | 振動臺耦合接口 | ### 常見故障與維護(hù) - **故障1：濕度顯示異常** - **原因**：濕度傳感器老化、除濕模塊堵塞。 - **解決**：更換傳感器（如Vaisala HMP110），清洗分子篩。 - **故障2：溫度波動超標(biāo)** - **原因**：加熱管接觸不良、PID參數(shù)失調(diào)。 - **解決**：檢查加熱管阻值（正常值±5%），重新整定PID參數(shù)（P=20, I=300, D=10）。 - **維護(hù)周期**： - 每月清潔冷凝器、檢查門封條密封性。 - 每季度更換干燥劑、校驗溫濕度探頭。 ### FAQ **Q1：低濕型試驗箱如何實(shí)現(xiàn)10%RH以下環(huán)境？** A：通過分子篩吸附+壓縮空氣除濕，配合密閉風(fēng)道設(shè)計減少外界濕氣滲入。需定期再生分子篩（180℃加熱4小時）。 **Q2：伺服PID與液壓控制方式的區(qū)別？** A：伺服PID通過電磁閥精準(zhǔn)調(diào)節(jié)制冷劑流量，響應(yīng)速度≤2秒；液壓式依賴液壓油壓力，響應(yīng)速度≥5秒，但成本低30%。 **Q3：試驗箱容積如何選擇？** A：按試樣體積+預(yù)留20%空間計算。例如測試10塊300mm×300mm PCB板，需≥ 3箱體。 **Q4：交變濕熱試驗的溫濕度切換時間要求？** A：GB/T 規(guī)定，升溫/降溫速率≤1℃/min，濕度切換時間≤30min。 **Q5：如何驗證試驗箱的均勻性？** A：在箱內(nèi)布置9個測溫點(diǎn)（中心+四角+四邊中點(diǎn)），連續(xù)記錄24小時，計算最大溫差與濕度偏差。 ### 外部參考 - **中國計量科學(xué)研究院**：環(huán)境試驗設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范欄目 - **IEEE Xplore**：恒溫恒濕試驗對電子元器件失效的影響研究 ### 聲明 ### JSON-LD